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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱(chēng)：日本OTSUKA大塚多角度納米粒度及ZETA電位分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)： ELSZNEO
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡(jiǎn)單介紹：
北崎熱銷(xiāo)日本OTSUKA大塚
詳情介紹：


產(chǎn)品信息

ELSZ series的***機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測(cè)定。另外，也可實(shí)現(xiàn)測(cè)量粒子濃度測(cè)定、微流變學(xué)測(cè)定、凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)分析。 全新的zeta電位平板固體樣品池，通過(guò)新開(kāi)發(fā)的對(duì)應(yīng)高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。3μL就能測(cè)定粒徑的超微量樣品池也位列其中，從而擴(kuò)大了生命科學(xué)領(lǐng)域的可能性。 在0~90℃的寬溫度范圍內(nèi)，可以進(jìn)行自動(dòng)溫度梯度測(cè)量的變性相變溫度分析。


       視頻：


        特點(diǎn)

        ● 可對(duì)應(yīng)從稀薄到濃厚溶液（~40%）寬濃度范圍的粒徑和ZETA電位測(cè)量
        ● 通過(guò)多角度測(cè)定，可測(cè)量分辨率更高的粒徑分布
        ● 可以在高鹽濃度下測(cè)量平板樣品的ZETA電位
        ● 通過(guò)靜態(tài)光散射法可測(cè)量粒子的濃度
        ● 能過(guò)動(dòng)態(tài)光散射法可測(cè)量微流變學(xué)
        ● 通過(guò)測(cè)量凝膠樣品在多個(gè)點(diǎn)的散射強(qiáng)度和擴(kuò)散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。
        ● 可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量
        ● 通過(guò)溫度梯度功能，可對(duì)蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析
        ● 通過(guò)樣品池內(nèi)的實(shí)測(cè)電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果,
        ● 可安裝熒光濾光器(選配)


        用途

非常適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。


●新型功能材料領(lǐng)域

- 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

- 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹(shù)枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。


●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

- 無(wú)機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究


●半導(dǎo)體領(lǐng)域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用


●聚合物/化工領(lǐng)域

- 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）

- 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過(guò)程控制和紙漿添加劑研究


●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域

- 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)

- 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測(cè)



        粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

        由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運(yùn)動(dòng)，粒子受到光照射時(shí)會(huì)得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動(dòng)，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動(dòng)。
 通過(guò)光子相關(guān)法分析這種波動(dòng)，就可以求得粒度和粒度分布。
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    分析流程

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    zeta電位測(cè)量原理：電泳光散射法 （激光多普勒法）

    對(duì)溶液中的粒子施加電場(chǎng)時(shí)，可以觀察到粒子電荷所對(duì)應(yīng)的電泳動(dòng)。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動(dòng)度。
電泳散射法將光照射在泳動(dòng)中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱(chēng)之為激光多普勒（Laser Doppler）法。
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    實(shí)測(cè)電滲流的優(yōu)點(diǎn)

測(cè)量ZETA電位時(shí)，在樣品池內(nèi)的粒子除了會(huì)泳動(dòng)外，還會(huì)產(chǎn)生電滲流。

電滲流是指在樣品池內(nèi)壁面帶有負(fù)電荷時(shí)，溶液中的正離子會(huì)聚集于壁面附近。如施加電場(chǎng)時(shí)，壁面附近的正離子會(huì)往負(fù)離子電極方向移動(dòng)，并在樣品池內(nèi)中央附近產(chǎn)生的一種對(duì)流。

 

森·岡本公式

充分考慮電滲流后進(jìn)行樣品池內(nèi)泳動(dòng)速度的解析

 

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    電滲透流應(yīng)用于多成分解析

 ELSZ Series通過(guò)實(shí)測(cè)樣品內(nèi)多點(diǎn)觀察到的電泳移動(dòng)度，可以確認(rèn)測(cè)量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。

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    固體平板樣品池的應(yīng)用

固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。

實(shí)測(cè)樣品池高度方向各層觀測(cè)粒子的電泳移動(dòng)度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進(jìn)而求得平板樣品表面的ZETA電位。

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    高濃度樣品池的測(cè)量原理

對(duì)于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的ELSZ series很難測(cè)量到所需結(jié)果。

但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標(biāo)準(zhǔn)樣品池的測(cè)量范圍擴(kuò)大，可測(cè)量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過(guò)采用FST法的高濃度樣品池可測(cè)量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。

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        分子量測(cè)量原理（靜態(tài)光散射法）

眾所周知，靜態(tài)光散射法可以輕松測(cè)量**分子量。

測(cè)量原理為，將光線照射在溶液分子上可以得到散射光，根據(jù)散射光的**值求取分子量，即利用了大分子可得到強(qiáng)散射光，小分子可得到弱散射光的現(xiàn)象。

實(shí)際上，因?yàn)闈舛炔煌⑸涔鈴?qiáng)度也不同，實(shí)測(cè)數(shù)點(diǎn)不同濃度溶液的光散射強(qiáng)度，代入以下公式繪制圖示。橫軸為濃度，縱軸為與散射強(qiáng)度Kc/R（θ）相等的倒數(shù)。此方法也被稱(chēng)為Debye圖示法。

籍由往零濃度（C=0）外插的倒數(shù)求取分子量Mw,并以此初期梯度可求得**維里系數(shù)A2.

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分子量較大的分子，散射強(qiáng)度會(huì)因角度而不同。

分子量籍由測(cè)量不同散射角度（θ）的散射強(qiáng)度不但可提高測(cè)精度，也可獲得分子擴(kuò)散指標(biāo)的回轉(zhuǎn)半徑。

以固定角度進(jìn)行測(cè)量時(shí)，只要輸入推測(cè)的回轉(zhuǎn)半徑，角度將自行補(bǔ)正，可測(cè)量更高精度的分子量。

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    **維里系數(shù)

表示溶媒中分子間的排斥與吸引程度，更易于觀察溶劑分子的相容性與結(jié)晶化現(xiàn)象。

●A2為正時(shí)，代表溶劑相容性高，分子間排斥力強(qiáng)，更加穩(wěn)定。

●A2為負(fù)時(shí)，代表溶劑相容性低，分子間吸引力強(qiáng)，易產(chǎn)生凝集。

●A2=0時(shí)，代表溶劑為理想溶劑，此時(shí)溫度被稱(chēng)為理想溫度，排斥與吸引力處于平衡狀態(tài)，易產(chǎn)生結(jié)晶化。


規(guī)格

測(cè)定項(xiàng)目

        ●Zeta電位

        ●粒徑

        ●分子量

        ●粒子濃度

        ●微流變學(xué)測(cè)量

        ●凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析

    參數(shù)

測(cè)量原理

粒徑

動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

ZETA電位

電泳光散射法（激光多普勒法）

分子量

靜態(tài)光散射法

光學(xué)系統(tǒng)

粒徑

零差光學(xué)系統(tǒng)

ZETA電位

外差光學(xué)

分子量

零差光學(xué)系統(tǒng)

光源

高功率半導(dǎo)體激光器

探測(cè)器

高靈敏度APD

樣品池單元

ZETA電位：標(biāo)準(zhǔn)池 微量一次性池或濃縮池

粒度/分子量：方形池

溫度

0~90℃（帶溫度梯度功能）

電源

220V ± 10% 250VA

尺寸(WDH)

330(W)×565(D)×245(H)

重量

22Kg

 

    測(cè)量范圍

ZETA電位

No effective limitations（無(wú)有效上限）

電氣移動(dòng)度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s

粒徑

0.6nm ~ 10um

分子量

340 ～ 2×10*7

 

●對(duì)應(yīng)范圍


測(cè)量溫度范圍

0~90℃

測(cè)量濃度范圍

粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1


*1（標(biāo)準(zhǔn)粒子： 0.00001 ～ 10%、膽汁酸： ～ 40%）m

    標(biāo)準(zhǔn)樣品池


標(biāo)準(zhǔn)樣品池套件

可測(cè)量粒子徑與ZETA電位電位的樣品池套件

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粒徑測(cè)量套件

可測(cè)量粒徑的樣品池套件，可使用市面上的四角樣品槽

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粒徑多角度樣品池套件

通過(guò)3個(gè)角度測(cè)量粒徑和分子量的樣品池套件

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 測(cè)量示例

多角度測(cè)量，分辨率更高

通過(guò)從正面，側(cè)面和背面三個(gè)角度進(jìn)行測(cè)量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。

無(wú)法通過(guò)1個(gè)角度測(cè)量分離的樣品也可以通過(guò)3角度測(cè)量和分析分離為多個(gè)峰。




               

粒子濃度測(cè)定

可以通過(guò)靜態(tài)光散射法計(jì)算溶液中的粒子濃度。




微流變學(xué)測(cè)量

通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量聚合物和蛋白質(zhì)等軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。

凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析

通過(guò)測(cè)量凝膠樣品在多個(gè)點(diǎn)的散射強(qiáng)度和擴(kuò)散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。

 

高鹽濃度下的平板固體樣品測(cè)量

用于測(cè)量平板狀樣品表面ZETA電位的新樣品池。新開(kāi)發(fā)的高鹽濃度涂層能夠在高鹽濃度環(huán)境（154mM NaCl溶液）中進(jìn)行測(cè)量。實(shí)現(xiàn)對(duì)生物相容性材料的評(píng)估。

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寬濃度范圍的Zeta電位和粒徑測(cè)量

可測(cè)量濃度范圍從0.00001%(0.1PPM)的稀薄溶液到40%濃厚溶液的粒徑和ZETA電位。

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