掃描X射線熒光分析儀
采用頂側(cè)照明方式的掃描X射線熒光分析儀，可在生產(chǎn)控制分析中發(fā)揮其威力。

配備齊全的**保障機(jī)制和功能
- 頂面照射法
由于X射線從樣品上方照射，即使粉末從粉末樣品中散落，也不會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)。無需使用薄膜來防止樣品掉落。 ZSX Primus III NEXT進(jìn)一步抑制了灰塵流入設(shè)備內(nèi)部。

?計(jì)算機(jī)故障時(shí)測量過程中樣品的自動(dòng)排出功能
如果在測量分析樣品時(shí)操作系統(tǒng)出現(xiàn)故障，分析樣品可能會(huì)無意中長時(shí)間保留在測量裝置中，從而導(dǎo)致裝置或樣品損壞。防止的功能

?軟件的用戶訪問級別設(shè)置
可以為每個(gè)操作員設(shè)置軟件的訪問級別。這可以防止由于操作錯(cuò)誤而導(dǎo)致數(shù)據(jù)庫更改或刪除。通過在

高速分析
X射線計(jì)數(shù)系統(tǒng)中安裝數(shù)字多通道分析儀（D-MCA：1024通道規(guī)格），高速數(shù)字處理實(shí)現(xiàn)了高達(dá)高計(jì)數(shù)率范圍的計(jì)數(shù)線性度。通過高速數(shù)據(jù)處理和各驅(qū)動(dòng)單元的高效控制，與傳統(tǒng)設(shè)備相比，定量分析的吞吐量提高了21%。
 
環(huán)保設(shè)計(jì)
/無需檢測氣體
還可配備輕元素環(huán)保氣體保護(hù)正比計(jì)數(shù)器（S-PC LE）。由于檢測器不需要供氣，因此即使在難以獲得或安裝高壓氣體的地方也可以安裝該裝置（可選）。

?節(jié)能設(shè)計(jì)
除了減少冷卻水量和PR氣體流量外，還具有節(jié)能操作功能，在不進(jìn)行分析時(shí)自動(dòng)降低X射線輸出，并自動(dòng)關(guān)閉電源功能。

?加強(qiáng)對測量和分析的支持
我們加強(qiáng)了具有良好記錄的ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi軟件<ZSX Guidance>的日常分析，并充分利用D-MCA數(shù)據(jù)來提高準(zhǔn)確性。另外，獲得的定量分析結(jié)果的誤差可以以標(biāo)準(zhǔn)差的形式顯示，可以有效地評價(jià)分析值的可靠性。
調(diào)度程序功能可簡化日常分析管理（自動(dòng)啟動(dòng)+自動(dòng)漂移校正功能），大大減少分析工作前準(zhǔn)備工作所需的人力。

擴(kuò)展的應(yīng)用程序包
與旗艦機(jī) ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi 兼容的行業(yè)特定應(yīng)用程序包也可與本機(jī) ZSX Primus III NEXT 一起使用。

輕松共享應(yīng)用程序
通過與頂部照明的ZSX Primus IV、ZSX Primus III NEXT和底部照明的ZSX Primus IVi創(chuàng)建通用的硬件和軟件平臺(tái)，可以輕松地在三個(gè)型號(hào)之間以及同一型號(hào)之間共享應(yīng)用程序。

產(chǎn)品名稱	ZSX Primus III NEXT
方法	波長色散 X 射線熒光分析 (WDXRF)
目的	固體、粉末、合金和薄膜的元素分析
技術(shù)	掃描波長色散 X 射線熒光分析 (WDXRF)
主要成分	3kW封閉式X射線管，10晶體自動(dòng)交換器
選項(xiàng)	48 個(gè)樣品自動(dòng)進(jìn)樣器（托盤） 輕元素氣體保護(hù)正比計(jì)數(shù)器 (S-PC LE)
控制（電腦）	外部 PC、MS Windows® 操作系統(tǒng)、ZSX 指導(dǎo)
機(jī)身尺寸	1310（寬）×1508（高）×890（深）毫米
質(zhì)量（主體）	約620公斤
電源	設(shè)備：3相，200V，40A 計(jì)算機(jī)：100V，10A