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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：寫真化學(xué)成像涂層測(cè)厚儀

  • 產(chǎn)品型號(hào)：0.1nm膜厚儀
  • 產(chǎn)品廠商：Kakuhunter寫真化學(xué)
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
寫真化學(xué)成像涂層測(cè)厚儀北崎熱賣，這是一種可以通過顯微圖像光譜可視化透明多層膜的膜厚分布的膜厚計(jì)
詳情介紹：

這是一種可以通過顯微圖像光譜可視化透明多層膜的膜厚分布的膜厚計(jì)。
由于薄膜厚度是通過光學(xué)干涉法計(jì)算的，因此
薄膜厚度分布可以以 0.1 nm 或更低的分辨率以 3D 形式顯示。

  • 多晶硅結(jié)晶度的評(píng)價(jià)
    •  
  • 多孔膜的密度評(píng)估
  1. 薄膜厚度分布的原位可視化
    • 在顯微鏡視場(chǎng)中測(cè)量任意區(qū)域的薄膜厚度和薄膜質(zhì)量分布
      ，并以 3D 形式顯示分布
  2. 膜厚測(cè)量分辨率：0.1 nm 或更小
    • 分辨率與可見光波長光學(xué)涂層測(cè)厚儀相當(dāng)
    • 波長范圍從 450 nm 到 750 nm，可以 1 nm 的增量指定
  3. 高速、多層同時(shí)測(cè)量 9 層
    • 使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計(jì)算引擎進(jìn)行并行計(jì)算

    應(yīng)用實(shí)例

    1. （1） 數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜和溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu)
    2. （2） 用 EMA（有效介質(zhì)近似）法估計(jì)亞微米圖案的密度
    3. （3） 局部結(jié)晶度評(píng)估
  1. 通過物鏡和面積規(guī)格測(cè)量任意面積的膜厚分布
    • 您可以根據(jù)工件和應(yīng)用選擇物鏡

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