DRE東榮電子晶體高低溫測(cè)試分選機(jī)

DRE東榮電子晶體高低溫測(cè)試分選機(jī)

該高低溫度特性測(cè)試系統(tǒng)可以在使用者設(shè)置的多點(diǎn)溫度下**的測(cè)量晶體諧振器的電參數(shù)。系統(tǒng)具有非常靈活的測(cè)試結(jié)果報(bào)告形式，所有被測(cè)量的參數(shù)都可以進(jìn)行溫度測(cè)試報(bào)告分析。
特點(diǎn)
有多種規(guī)格的測(cè)試盤(pán)，可對(duì)應(yīng)各種尺寸的SMD或插腳類型的晶體諧振器，在多點(diǎn)溫度或連續(xù)溫度下的測(cè)量
使用**設(shè)計(jì)的輪式測(cè)試盤(pán)，引腳表面鍍鎳處理，耐磨，壽命長(zhǎng)
無(wú)焊接的插孔替代通常使用的接頭，以及非常低的連接阻抗和一致的連接，接觸可靠，保證高可靠重復(fù)性的測(cè)量
測(cè)試結(jié)果報(bào)告可靈活設(shè)置；并可對(duì)測(cè)試報(bào)告資料作其他應(yīng)用處理
指定溫度下，做DLD的溫度特性測(cè)試
特別地，還適用于高Q值和SC切類型晶體的溫度特性的測(cè)量